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電子元器件老化測試-55℃至+125℃高低溫機用于電子元器件（如芯片、PCB、傳感器等）在-55℃至+125℃范圍內(nèi)的老化測試（Burn-in Test）是評估其可靠性、壽命及環(huán)境適應性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
高低溫測試-65℃～+150℃冷熱一體機組是一種集成制冷與加熱功能的溫控設(shè)備，用于模擬溫度環(huán)境，測試電子元器件、材料、電池、汽車部件等在高低溫交變條件下的可靠性。其核心特點是寬溫區(qū)、快速升降溫、高精度控制，廣泛應用于、汽車、半導體、新能源等行業(yè)。
環(huán)境模擬溫度用升溫降溫一體機組-120至300是一種高度集成的溫控系統(tǒng)，能夠精確模擬從低溫到高溫的寬范圍溫度環(huán)境（如-70℃至+150℃），并實現(xiàn)快速升降溫切換。
-30℃~90度水冷冷凍式溫控制冷機組適用于：制藥，測試，汽車，石油，新材料，新能源，半導體，生物，電子元件，醫(yī)療，石化，生化，化學，電氣測試，橡膠新能源，高性能膜材料等行業(yè)
康士捷防爆型制冷加熱一體機組根據(jù)不同行業(yè)不同工藝設(shè)計生產(chǎn)，滿足貴司實際工藝要求，控溫效果好
聯(lián)系人：賴經(jīng)理
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